一种多角度打光检测装置及检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种多角度打光检测装置及检测设备，在进行检测时，工件位于检测工位上，通过低角度环状光源装置向工件照射低角度均匀扩散光线，通过高角度环状光源装置向工件照射高角度均匀扩散光线；其中，低角度均匀扩散光线提供暗场照明环境，能够凸显工件的边缘、倒角、台阶过渡等不平整坡度信息；而高角度均匀扩散光线提供明场照明环境，能够凸显工件表面平整区域的轮廓特征，且表面粗糙程度不同或反射率不同的区域也会有明显差异，从而令摄像单元能够获取工件的毛刺信息以便进行起毛检测；即本方案通过低角度环状光源装置与高角度环状光源装置的组合实现了单一设备对工件的全面检测，提高了检测效率，从而提高了生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种多角度打光检测装置及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123098417.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216747452U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
陈灵铭
申请人 ：
广东奥普特科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市长安镇锦厦社区河南工业区锦升路8号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
俱玉云
优先权 ：
CN202123098417.0
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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