一种集成电路生产用具有定位摆放功能的测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路生产用具有定位摆放功能的测试仪，包括：测试仪本体，所述测试仪本体的表面设置有接线座，且测试仪本体的两侧开设有导向槽，并且导向槽的内部设置有导向块；辅助板，设置在所述测试仪本体的外侧，且对接杆的两端分别与导向块的一端以及辅助板的一侧进行活动连接，所述辅助板远离对接杆的一端表面开设有限位槽。该集成电路生产用具有定位摆放功能的测试仪，采用了对接架与限位块以及辅助板的设置，从而使得集成电路测试仪具有定位摆放功能，配合挡板，从而使得集成电路测试仪不使用时具有防尘功能，通过设置有支撑座与橡胶垫和防滑槽，从而防止集成电路测试仪发生位置偏移。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路生产用具有定位摆放功能的测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123130762.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216560890U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
谢宏兴
申请人 ：
深圳市比邻芯科技有限责任公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区龙华街道松和社区梅龙大道1040号共和和丰大厦B1806
代理机构 ：
深圳众邦专利代理有限公司
代理人 ：
王金刚
优先权 ：
CN202123130762.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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