试验箱安装结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种试验箱安装结构，包括下工作室和罩扣在下工作室上端的上工作室，下工作室与上工作室内部合围形成测试工作空间，所述下工作室的两侧铺设有导轨，所述导轨上滑动安装有向上延伸的框架，框架顶部设有卷扬机组，该卷扬机组用于起吊所述上工作室。本实用新型的有益效果是：试验箱为上下扣合结构，借助卷扬机组起吊上工作室，便可以使下工作室的上端完全暴露出来，从而方便取装各种类型的产品。
基本信息
专利标题 ：
试验箱安装结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123194467.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-17
授权号 ：
CN216670147U
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
沈家亮倪军丽
申请人 ：
重庆哈丁环境试验技术股份有限公司
申请人地址 ：
重庆市合川区土场镇前照路9号
代理机构 ：
重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
唐攀
优先权 ：
CN202123194467.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04 B01L1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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