扫码头测试装置
授权
摘要
本实用新型提供一种扫码头测试装置，包括：测试端，用于搭载待测扫码头；显示端，用于生成和显示条码；驱动机构，具有用于安放所述显示端或所述测试端的模具；以及控制器，用于控制所述测试端、所述显示端和所述驱动机构，其中，所述控制器通过所述测试端来控制待测扫码头的扫码头测试参数，所述控制器根据测试内容控制所述驱动机构的移动和所述显示端所要生成和显示的所述条码。本实用新型将控制器、测试端、显示端和驱动机构组成一个统一的自动化测试装置，能够自动化的完成扫码头的测试，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
扫码头测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123255218.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
CN216526114U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
刘敏林喆刘力豪方梦宇蔡晓桓
申请人 ：
上海商米科技集团股份有限公司;深圳米开朗基罗科技有限公司
申请人地址 ：
上海市杨浦区淞沪路388号创智天地7号楼605
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
杜娟
优先权 ：
CN202123255218.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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