一种光学分度基座
授权
摘要
本实用新型涉及一种光学分度基座，其包括下固定盘、三角形压板、压盘、调节手轮、上固定盘、固定座盖和对点器；其特征为它还包括角度刻度盘；三角形压板通过压盘固定设置在下固定盘中，三角形压板上垂直设有调节手轮，上固定盘固定设置在调节手轮上，在上固定盘中设有一旋转凹槽，在旋转凹槽中设有一刻度盘凹槽，角度刻度盘设置在刻度盘凹槽中；固定座盖旋转设置在上固定盘的旋转凹槽中，对点器设置在固定座盖上。本实用新型具有能使光学测量仪器进行多方位基准点的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种光学分度基座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123328368.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
CN216524024U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
张力张卫姚德朋姚诗楠袁佳
申请人 ：
江阴香江光电仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市澄江街道新华工业园新园路16号
代理机构 ：
无锡大扬专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
何军
优先权 ：
CN202123328368.5
主分类号 ：
G01D11/00
IPC分类号 ：
G01D11/00 G01B5/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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