金属探测装置
授权
摘要

本申请涉及一种金属探测装置。所述装置包括:发射线圈、第一接收线圈和第二接收线圈;发射线圈与第一接收线圈以及第二接收线圈相对平行设置,第一接收线圈和第二接收线圈设置于发射线圈的同一侧,第一接收线圈和第二接收线圈中第一区域和第二区域电磁场方向相反、且在未探测到金属时,第一区域内的磁场通量与第二区域内的磁场通量相等,第一区域为与发射线圈投影重叠的区域;第二区域未与发射线圈投影重叠的区域;第一接收线圈与第二接收线圈的绕向相同、且第一接收线圈与第二接收线圈的一端相连。本金属探测装置相比于现有的金属探测装置,金属检测的灵敏度更高。

基本信息
专利标题 :
金属探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123425701.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
CN216561039U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
黄杰峰骆龙侴智
申请人 :
深圳市迈测科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区桃源街道福光社区塘朗车辆段旁塘朗城广场(西区)A座3601
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
潘宏洲
优先权 :
CN202123425701.4
主分类号 :
G01V3/11
IPC分类号 :
G01V3/11  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测;;地磁场特性的测量;例如,磁偏角或磁偏差
G01V3/08
通过被测目标或地质结构或通过探测装置产生或改变磁场或电场进行操作的
G01V3/10
用感应线圈
G01V3/11
用于探测导体,例如,轻武器、电缆或导管
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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