天平（优数+）
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：天平（优数+）。2.本外观设计产品的用途：测定物体的质量。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
基本信息
专利标题 ：
天平（优数+）
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130827800.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN307276613S
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
何婉莹李佳馨庄新宇胡铭薇朱姣蓉邓欣昀
申请人 ：
重庆交通大学
申请人地址 ：
重庆市南岸区学府大道66号
代理机构 ：
深圳知帮办专利代理有限公司
代理人 ：
谭慧
优先权 ：
CN202130827800.1
主分类号 ：
10-04
IPC分类号 ：
10-04
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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