用于测量流量的测量系统
公开
摘要
已知一种用于测量负载(10)处的流量的测量系统，具有供应单元(12)，其具有介质接口(18)和吹扫气体接口(20)和/或惰性气体或压力空气接口(22)，测量单元(14)，其具有至少一个流量计(50)和至少一个可控阀(46，60，70)，测量单元(14)以流通方式连接到供应单元(12)，用于有选择地引入测量介质流或惰性气体流，并且通过测量单元(14)能够测量流量，出口压力调节单元(16)，测量单元(14)能够通过出口压力调节单元连接到负载(10)并且出口压力调节单元(16)具有至少一个出口压力传感器(86)和至少一个可控阀(80、116、124)，和主线路(26)，其连接到介质接口(18)，并且供应单元(12)、测量单元(14)和出口压力调节单元(16)通过该主线路(12)流通地连接。为了在较长的时间范围以及在负载会处于的极端条件下保证可靠的测量结果，按照本发明建议，供应单元(12)和测量单元(14)布置在一个壳体(74)中，并且出口压力调节单元(16)被布置在分开的壳体(90)中，其中测量单元(14)和出口压力调节单元(16)的可控阀(46、60、70、80、116、124)和出口压力调节单元(16)的出口压力传感器(86)通过线路(88)与供应单元(12)连接。
基本信息
专利标题 ：
用于测量流量的测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114585886A
申请号 ：
CN202180005861.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-04-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
M.巴克纳
申请人 ：
AVL列表有限责任公司
申请人地址 ：
奥地利格拉茨
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
侯宇
优先权 ：
CN202180005861.7
主分类号 ：
G01F15/02
IPC分类号 ：
G01F15/02 G01F15/04 G01F1/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F15/00
用于组G01F1/00至G01F13/00范围的零部件或仪器的，但不专用于其中特定类型仪器的零件或附件
G01F15/02
压力、密度、温度变化的补偿或校正
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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