一种宽带宽角波束扫描的和差波束稀疏阵列综合方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种宽带宽角波束扫描的和差波束稀疏阵列综合方法,涉及阵列天线方向图综合以及天线阵元位置优化。该方法包括如下步骤:步骤1.引入“设计频率”概念,将宽带宽角波束扫描的和差波束阵列综合问题转换为基于单一频点的和差波束阵列综合问题;步骤2.采用升幂级数(RPS)解析法对阵元进行初始布局;步骤3.在“设计频率”采用迭代凸优化方法进行多步阵元位置微扰优化,并在优化过程中设置多个约束条件,例如和波束及差波束的副瓣电平约束、目标方向上的差波束斜率约束、阵元位置微扰量幅值约束和阵元最小间距约束等。本发明可通过优化阵元布局同时生成具有宽带宽角波束扫描性能的和波束及差波束,并设置多个约束条件以满足实际的应用需求。

基本信息
专利标题 :
一种宽带宽角波束扫描的和差波束稀疏阵列综合方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114357767A
申请号 :
CN202210004076.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘颜回刘泱陈礼阳杨仕文胡俊聂在平
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
代理机构 :
四川省成都市天策商标专利事务所(有限合伙)
代理人 :
张秀敏
优先权 :
CN202210004076.6
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  H01Q21/00  G06F111/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20220104
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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