SSD数据测试方法、装置、存储介质及测试设备
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种SSD数据测试方法、装置、存储介质及测试设备,该方法包括:在将测试数据写入SSD设备时,按照所述测试数据的数据模板将测试数据写入预设的第一缓存区进行存储备份;在对写入SSD设备的测试数据进行读取测试时,从所述第一缓存区获取备份测试数据,并将所述备份测试数据按照所述数据模板填充到预设的第二缓存区;根据填充有备份测试数据的第二缓存区对记录有读取数据的目标缓存区按位进行数据校验。本发明在数据校验的过程中,可以对读取数据的每个bit进行一一校验,充分验证SSD数据的可靠性,并且出错时候,能够快速定位出错位置,提升测试效率。
基本信息
专利标题 :
SSD数据测试方法、装置、存储介质及测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114388053A
申请号 :
CN202210005135.1
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
崔梅徐晖肖王健
申请人 :
北京得瑞领新科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-6号楼A座9层A905室
代理机构 :
北京慧智兴达知识产权代理有限公司
代理人 :
李丽颖
优先权 :
CN202210005135.1
主分类号 :
G11C29/56
IPC分类号 :
G11C29/56 G06F11/14 G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置,例如:用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置,例如,自动测试设备;所用接口
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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