一种无取向硅钢析出物的检测分析方法
实质审查的生效
摘要

本申请涉及材料分析测试领域,尤其涉及一种无取向硅钢析出物的检测分析方法;所述方法包括:得到硅钢样品;将硅钢样品进行表面处理,得到纯净样品;将纯净样品进行电解腐蚀、冲洗和干燥,得到待检测样品;将待检测样品沿厚度方向设定为边缘层、次表层和中心层;将边缘层、次表层和中心层分别按照多个设定点位进行电镜图形的采集,得到边缘层的样品电镜图样、次表层的样品电镜图样和中心层的样品电镜图样;通过对前期制样过程中控制工艺参数,再通过在待检测样品的厚度方向的不同位置进行电镜图形的采集,对得到的电镜图样进行统计分析,能准确统计无取向硅钢的析出物数量和析出物的尺寸数据,从而能准确表征无取向硅钢的析出物。

基本信息
专利标题 :
一种无取向硅钢析出物的检测分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487487A
申请号 :
CN202210011882.6
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程林张立峰刘云霞刘晓强刘兆月刘恭涛曹瑞芳董晨曦陈继冬李跃
申请人 :
首钢智新迁安电磁材料有限公司
申请人地址 :
河北省唐山市迁安市西部工业区兆安街025号
代理机构 :
北京华沛德权律师事务所
代理人 :
郭士超
优先权 :
CN202210011882.6
主分类号 :
G01Q30/20
IPC分类号 :
G01Q30/20  G01Q30/02  G01Q30/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01Q
扫描探针技术或设备;扫描探针技术的应用,例如,扫描探针显微术
G01Q30/00
用于辅助或改进扫描探针技术或设备的辅助手段,例如显示或数据处理装置
G01Q30/20
样品处理装置或方法
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01Q 30/20
申请日 : 20220105
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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