侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置;所述的测量方法如下:将图像探测器设置在LED屏幕外侧,在LED屏幕黑屏条件下,转动图像探测器并保证其光轴始终位于LED屏幕前表面所在的平面内,采集LED屏幕侧向图像;根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低,如无投影产生则LED屏幕平整度高,否则调试LED屏幕平整度;所述的测量装置中固定杆通过U型固定器固定在屏幕安装架的边缘处,图像探测器位于LED屏幕外侧并通过铰接接头与固定杆连接;图像探测器光轴位于LED屏幕前表面所在的平面内。本发明能够实现LED屏幕拼接平整度的测量,从而减少拼接屏幕平整度品质差等问题,测试装置结构简单。

基本信息
专利标题 :
侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114353703A
申请号 :
CN202210013194.3
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郑喜凤陈宇汪洋赵丽婷李倩影
申请人 :
长春希达电子技术有限公司
申请人地址 :
吉林省长春市长春高新技术产业开发区超群街191号1号楼
代理机构 :
长春吉大专利代理有限责任公司
代理人 :
王淑秋
优先权 :
CN202210013194.3
主分类号 :
G01B11/30
IPC分类号 :
G01B11/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/30
申请日 : 20220107
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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