一种样本分析仪及其反应度计算方法
公开
摘要
本申请公开了一种样本分析仪及其反应度计算方法，反应度计算方法包括：所述样本分析仪对样本进行检测，得到第一原数据集；基于预设数量从所述第一原数据集中提取连续的多个第一原数据；基于所述多个第一原数据进行预测，得到多个第一预测数据；基于所述多个第一预测数据和所述多个第一原数据得到反应曲线；基于所述反应曲线计算得到反应度通过上述方式，进而对第一原数据集进行优化，即能够对高值样本的数据进行优化，提高重复性，提高用户的使用体验。
基本信息
专利标题 ：
一种样本分析仪及其反应度计算方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414532A
申请号 ：
CN202210014513.2
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2022-01-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石书林方建伟李国军
申请人 ：
深圳市帝迈生物技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区光侨路高科创新中心B座10层
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李庆波
优先权 ：
CN202210014513.2
主分类号 ：
G01N21/47
IPC分类号 ：
G01N21/47 G01N21/01 G01N21/59 G06F17/18 G06N20/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
法律状态
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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