星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法,包括天线反射器、移动组件、金属斗、喇叭天线、标准辐射计、转动装置、角度测量装置和数据采集设备。本发明通过建立低亮温测试环境、改变天线反射器后向漏射亮温,通过标准辐射计输出变化,直接测量天线反射器后向漏射。本发明中使用标准辐射计直接测试天线反射器后向漏射,因此测试精度更高;本发明中使用转动装置模拟星载微波辐射计喇叭天线在轨运动轨迹,可以测试喇叭天线在多个位置的天线反射器后向漏射,且测试时间短;本发明中转动装置可以同时运动多个喇叭天线,可同时测试的频点多;具有良好的推广和应用价值。
基本信息
专利标题 :
星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355038A
申请号 :
CN202210016083.8
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
何嘉恺徐红新姜丽菲周仁杰叶志彪陈卫英邢瑞先潘莉苏晟
申请人 :
上海航天测控通信研究所
申请人地址 :
上海市闵行区中春路1777号
代理机构 :
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 :
胡晶
优先权 :
CN202210016083.8
主分类号 :
G01R23/165
IPC分类号 :
G01R23/165
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置;频谱分析装置
G01R23/16
谱分析;傅立叶分析
G01R23/165
采用滤波器
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 23/165
申请日 : 20220107
申请日 : 20220107
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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