一种防拆检测方法及电路
公开
摘要
本发明涉及芯片安全设计技术领域，公开了一种防拆检测方法及电路，包括检测配置单元、边沿检测单元和电平检测单元。检测配置单元可配置检测开关、检测模式、滤波次数、采样频率；边沿检测单元实现上升沿和下降沿检测电路：待检测信号经过二选一选择器和D触发器生成上升沿检测事件，待检测信号经过反相器、二选一选择器和D触发器生成下降沿检测事件；电平检测单元由计数单元和对比单元构成：计数单元1计数到配置采样频率的计数值后由对比单元1产生脉冲后作用到计数单元2，同时计数单元2依据检测电平计数到滤波次数配置值后由对比单元2产生有效检测事件。本发明提供的防拆检测方法解决了检测方式可配置性低，边沿检测误触发的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种防拆检测方法及电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545195A
申请号 ：
CN202210025436.0
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孟得光顾庆赵文广
申请人 ：
上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区上海市张江高科园区碧波路572弄39号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210025436.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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