一种点样装置
实质审查的生效
摘要
本发明属于热电离质谱仪技术领域，具体涉及一种点样装置，用于热电离质谱仪的样品的制备，包括设有若干样品支架孔位的机箱(14)，每个样品支架孔位能够插入一个设有样品的样品支架(13)，其中的任意几个样品支架孔位上插入样品支架(13)均能够进行样品的制备。本发明的样品支架孔位采用模块化独立设计，损坏后可快速更换，简化手套箱内维修方式。在每个样品支架孔位背后设计独立的拨动开关(6)，未插样品支架(13)的接触嵌件(4)可通过拨动其对应的拨动开关(6)使其连通；当某个样品支架孔位损坏，也可直接通过其对应的拨动开关(6)使其短路，不影响整个装置使用。
基本信息
专利标题 ：
一种点样装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114544318A
申请号 ：
CN202210025804.1
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
应浙聪熊超杰
申请人 ：
中国原子能科学研究院
申请人地址 ：
北京市房山区新镇三强路1号院
代理机构 ：
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田明
优先权 ：
CN202210025804.1
主分类号 ：
G01N1/44
IPC分类号 ：
G01N1/44 G01N27/626 H01J49/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/44
包括辐照的样品处理，例如，加热
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 1/44
申请日 : 20220111
申请日 : 20220111
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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