测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备

授权

摘要

本发明涉及计算机技术领域，提供一种测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备。通过根据预存的自动化测试工具对应用程序执行多个测试行为，所获得的多个测试行为的原始数据和多个图片信息，得到每个测试行为的数据；并根据预存的代码分析工具对应用程序分析多个操作事件，所获得的多个操作事件的原始数据，得到每个操作事件的数据；然后根据全部测试行为的数据和全部操作事件的数据，得到表征自动化测试工具未执行的测试行为的目标数据；再根据目标数据生成应用程序的测试用例。实现自动生成测试用例，缩短了制作周期，提升了测试效率。

基本信息

专利标题：

测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114048147A

申请号：

CN202210029446.1

公开（公告）日：

2022-02-15

申请日：

2022-01-12

授权号：

CN114048147B

授权日：

2022-04-12

发明人：

黄万民陈振宇张晋桂郭超杨鹏郑海涛林怡坤

申请人：

广东拓思软件科学园有限公司;广州番禺职业技术学院

申请人地址：

广东省广州市黄埔区科学城彩频路11号

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

戴尧罡

优先权：

CN202210029446.1

主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/36