用于微控制器单元和天线的两步自测电路
实质审查的生效
摘要

公开了一种系统(100)。系统(100)包括天线(150)和处理器(105)。处理器(105)具有至少四个端口:第一输入端口,其耦接到连续性组件的第一部分;第一输出端口,其串联耦接到第一电阻器(160),该第一电阻器耦接到天线(150)的第一部分并经由第二电阻器(170)接地;第二输出端口,其通过第三电阻器(180)耦接到天线(150)的第一部分;以及第二输入端口,其耦接到天线(150)的第二部分并通过第四电阻器(190)接地。处理器(105)可操作用于激活和去激活适当的端口,以使处理器(105)处于三个操作模式中的一个:AC检测模式、AC自测模式和连续性测试模式。

基本信息
专利标题 :
用于微控制器单元和天线的两步自测电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325539A
申请号 :
CN202210031079.9
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2017-08-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
理查德·艾伦·杜克约翰·劳伦斯·佩恩
申请人 :
南线有限责任公司
申请人地址 :
美国乔治亚州
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
张霞
优先权 :
CN202210031079.9
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  G01R19/155  G01R29/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20170811
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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