通道间匹配性测试电路
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种通道间匹配性测试电路，该通道间匹配性测试电路包括测试模式电路、以及与测试模式电路信号连接的传输延时差处理电路；测试模式电路用于产生并输出测试模式使能信号，以开启传输延时差处理电路；传输延时差处理电路用于根据第一输出信号和第二输出信号生成二进制数，并输出所述二进制数。本发明还公开了一种多通道模组、合封芯片、测试系统。利用本发明方案，可以提高通道间匹配性测试精度。
基本信息
专利标题 ：
通道间匹配性测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325348A
申请号 ：
CN202210039254.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-01-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
管佳伟史文婷李海松易扬波
申请人 ：
苏州博创集成电路设计有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易实验区苏州片区苏州工业园区新平街388号22幢11层01&02&03&12单元
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
骆苏华
优先权 ：
CN202210039254.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220113
申请日 : 20220113
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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