台阶高度标准样块、制备方法以及白光干涉仪校准方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种台阶高度标准样块、制备方法以及白光干涉仪校准方法。该台阶高度标准样块包括:底层和位于底层上的台阶层;台阶层的上表面具有凹槽,凹槽用于接收并反射目标白光干涉仪的光,且台阶层的材料为不透明材料。由于本发明提供的台阶高度标准样块中,通过具有凹槽的台阶层构成台阶结构,而不是通过两层材料构成台阶结构,且台阶层的材料为不透明材料,使得该台阶高度标准样块中的台阶结构在上下表面具有相同的折射率和消光系数,进而使得本发明提供的台阶高度标准样块不会影响照射到台阶结构上的光的强度,进而利用本发明提供的台阶高度标准样块对白光干涉仪校准,有利于降低白光干涉仪的校准误差,实现白光干涉仪的快速精准校准。
基本信息
专利标题 :
台阶高度标准样块、制备方法以及白光干涉仪校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543688A
申请号 :
CN202210051175.X
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张晓东李锁印韩志国赵琳许晓青吴爱华
申请人 :
中国电子科技集团公司第十三研究所
申请人地址 :
河北省石家庄市合作路113号
代理机构 :
石家庄国为知识产权事务所
代理人 :
张一
优先权 :
CN202210051175.X
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20220117
申请日 : 20220117
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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