一种建立低剂量率水平辐射质的方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种建立低剂量率水平辐射质的方法,包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度,得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系;在标准辐射质下进行电离室刻度,得到标准辐射质的第一刻度系数;将光机的管电压分别设置为多个预设电压值,并在每个预设电压值下,调整管电流,并在多个预设管电流下,在距光机出口预设距离处通过谱仪测量能谱,通过电离室测量剂量率,并从多个待用过滤片中确定附加过滤,使得剂量率不大于预设的剂量率阈值;每个预设电压值对应一个新辐射质;能谱包括能量和计数率;根据计数率和能量,计算每个预设电压值对应的新辐射质的平均能量;根据标准辐射质的第一刻度系数,得到新辐射质的第二刻度系数。

基本信息
专利标题 :
一种建立低剂量率水平辐射质的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371498A
申请号 :
CN202210051497.4
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-01-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄建微曹蕾杨扬李德红张璇张晓乐刘博成建波
申请人 :
中国计量科学研究院
申请人地址 :
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 :
北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
高梅
优先权 :
CN202210051497.4
主分类号 :
G01T1/36
IPC分类号 :
G01T1/36  G01T1/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/36
申请日 : 20220117
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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