一种基于FPGA技术产生任意波形CELL测试机
公开
摘要
本发明涉及CELL测试机技术领域，尤其为一种基于FPGA技术产生任意波形CELL测试机，包括mcu主控板，所述mcu主控板的右侧通过导线电性连接有波形发生机构，所述波形发生机构包括FPGA模块、数模转换模块、低通滤波电路、程控放大电路、模数转换模块、按键输入模块、显示模块以及波形存储器，本发明可以有效解决目前需要的CELL测试机无法根据使用者要求产生任意波形，智能化程度较低的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种基于FPGA技术产生任意波形CELL测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563636A
申请号 ：
CN202210052254.2
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈润平
申请人 ：
深圳思凯测试技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区凤凰街道塘尾社区光明大道与东长路交叉口东南侧南太云创谷园区1栋1201
代理机构 ：
深圳峰诚志合知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈列生
优先权 ：
CN202210052254.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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