高速串行RapidIO通用测试系统和方法
实质审查的生效
摘要
本发明属于雷达测试技术领域，公开了一种高速串行RapidIO通用测试系统和方法。本发明的系统包括通用RapidIO测试器、通用RapidIO测试适配器、通用VPX总线测试插箱；通用RapidIO测试器，提供若干路X1模式串行RapidIO测试通道；通用RapidIO测试适配器包括若干VPX总线连接器，实现被测UUT的RapidIO信号和RapidIO测试器的测试通道之间信号转接；通用VPX总线测试插箱提供被测UUT的工作电源以及背板连接，测试槽位前后连接器信号按照VPX总线标准定义进行全对接。采用本发明能够解决雷达系统中基于VPX总线高速数字电路模块RapidIO通用测试难题。
基本信息
专利标题 ：
高速串行RapidIO通用测试系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114442056A
申请号 ：
CN202210067036.6
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-01-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曹子剑徐玉芳高洪青
申请人 ：
中国电子科技集团公司第十四研究所
申请人地址 ：
江苏省南京市雨花台区国睿路8号
代理机构 ：
南京知识律师事务所
代理人 ：
熊敏敏
优先权 ：
CN202210067036.6
主分类号 ：
G01S7/40
IPC分类号 ：
G01S7/40 H04L43/50
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/02
与G01S13/00组相应的系统的
G01S7/40
监测或校准装置
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/40
申请日 : 20220120
申请日 : 20220120
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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