一种局部放电检测的校准方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种局部放电检测的校准方法。现有方法不适用于电气干扰大的检测现场。本发明方法中脉冲发生器与局放检测仪约定多个脉冲发出时刻，待测试品断电后，脉冲发生器在约定时刻发出放电量相同的校准脉冲；局放检测仪查看约定时刻的脉冲，并将约定时刻的多个脉冲中幅值相同的脉冲作为标定基准；待测试品通电后，局放检测仪对待测试品根据标定基准进行局部放电检测。本发明方法中，脉冲发生器发出多个脉冲，能够提高避开干扰信号的概率，减少干扰信号对标准脉冲信号的影响，适用于电气干扰大的检测现场。
基本信息
专利标题 ：
一种局部放电检测的校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114415093A
申请号 ：
CN202210074082.9
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2022-01-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡憾洪亮亮王俊肖
申请人 ：
杭州西湖电子研究所
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区仓前街道龙潭路22号1幢4楼
代理机构 ：
杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
陈炜
优先权 ：
CN202210074082.9
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20220121
申请日 : 20220121
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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