基于FPGA的数字信号测试装置及方法
实质审查的生效
摘要
一种基于FPGA的数字信号测试装置及方法，装置包括电源模块、通信模块、输入模拟模块、输出采样模块和错误检测模块。方法的步骤包括：载入用户配置；向被测设备输入信号；采样被测设备的输出信号；对采样RAM进行检测；错误检测模块固定产生边沿的RAM指针，对另一个RAM进行搜索，判断是否找到一个边沿方向与固定RAM的边沿方向相同且使得搜索边沿计数器的值与固定边沿计数器的值相等的边沿；根据结果处理错误；向用户报告结果。本发明通过读取RAM内容并对输出进行采用实现对被测设备的测试，并通过对边沿进行检测实现了判断错误类型的功能。
基本信息
专利标题 ：
基于FPGA的数字信号测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487795A
申请号 ：
CN202210074752.7
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
袁晓光臧博李诗濡王子安任爱锋
申请人 ：
西安电子科技大学
申请人地址 ：
陕西省西安市太白南路2号
代理机构 ：
陕西电子工业专利中心
代理人 ：
田文英
优先权 ：
CN202210074752.7
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G01R31/3177
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20220121
申请日 : 20220121
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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