一种电磁场产生设备的内部湿度检测装置及检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种电磁场产生设备的内部湿度检测装置及检测方法，包括：电磁场产生设备模拟模块：模拟电磁场产生设备内部的发生器和线圈，改变并检测线圈的湿度；光学监测模块：获取电磁场产生设备模拟模块和电磁场产生设备的干涉条纹；信息捕获和处理模块：捕获电磁场产生设备模拟模块的干涉条纹，获取干涉偏折值，建立干涉偏折值和线圈的湿度检测值之间的对应关系；获取电磁场产生设备的真实干涉偏折值，并根据干涉偏折值和线圈的湿度检测值之间的对应关系，获取电磁场产生设备的内部湿度值。与现有技术相比，本发明能够直接利用线圈通电时周围产生的磁场精准反推线圈周围的湿度，避免电磁场产生设备的内部湿度过高带来的危害。
基本信息
专利标题 ：
一种电磁场产生设备的内部湿度检测装置及检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441479A
申请号 ：
CN202210078690.7
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
薛亮姜晨来李欣泽徐羽飞江友华江超焦哲晶
申请人 ：
上海电力大学
申请人地址 ：
上海市浦东新区沪城环路1851号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
彭瑶
优先权 ：
CN202210078690.7
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45 G01N21/01 G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/45
申请日 : 20220124
申请日 : 20220124
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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