终端设备的性能评测方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明提出一种终端设备的性能评测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：接收用户的指令，以启动AI性能评测流程；控制并执行每一种AI性能单项测试，并确定每一种所述AI性能单项测试的得分；基于所有所述AI性能单项测试的得分，确定终端设备的AI性能综合得分，对所述终端设备的性能评估。该方法通过多种AI性能单项测试对终端设备的AI性能进行评测，能够测试设备在处理这些不同AI应用时的实际性能，更全面的对终端设备的AI性能进行评估。
基本信息
专利标题 ：
终端设备的性能评测方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114546798A
申请号 ：
CN202210095692.7
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
全振宇韩银和
申请人 ：
中国科学院计算技术研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村科学院南路6号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
祁建国
优先权 ：
CN202210095692.7
主分类号 ：
G06F11/34
IPC分类号 ：
G06F11/34 G06F11/36 G06V10/776 G06K9/62 G10L15/01 G10L15/16 G10L15/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/30
监控
G06F11/34
计算机功效的记录或统计测定，例如，故障停机时间的、输入/输出操作的
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/34
申请日 : 20220126
申请日 : 20220126
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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