本发明公开了一种电子组件抗高过载特性测试装置，包括：弹体，其内部包括相互连通的第一腔体和第二腔体；上盖，其与所述弹体轴向一端可拆卸连接；电源，其安装在所述第一腔体内；压紧盖，其设置在所述上盖与所述电源之间，所述压紧盖一端与所述上盖相抵接且另一端与所述电源相抵接；测试记录装置，其安装在所述第一腔体内，所述测试记录装置位于所述电源的下方且与所述电源电连接；底盖，其与所述弹体轴向另一端可拆卸连接；及电子组件，其安装在所述底盖上并位于所述第二腔体内，所述电子组件与所述测试记录装置信号连接。本发明提供的测试装置，结构紧凑，提高测试精度和效率。