磁力仪平面阵列组织方法和装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种磁力仪平面阵列组织方法和装置,其中,所述方法包括:获取多个磁力仪平面子阵列,多个磁力仪平面子阵列位于同一平面,磁力仪平面子阵列呈三角状,包括分别位于磁力仪平面子阵列的各顶点的单轴磁力仪,单轴磁力仪包括第一单轴磁力仪、第二单轴磁力仪和第三单轴磁力仪;基于多个磁力仪平面子阵列,构建磁力仪平面阵列,使相邻磁力仪平面子阵列中的单轴磁力仪不同;确定磁目标,以及确定第一单轴磁力仪得到的关于磁目标的第一磁分量;基于差值算法,得到关于磁目标的第二磁分量和第三磁分量;基于第一磁分量、第二磁分量和第三磁分量,得到关于磁目标的磁成像。通过本发明,减少了磁串扰,且最终形成的磁成像的图像均匀。
基本信息
专利标题 :
磁力仪平面阵列组织方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518552A
申请号 :
CN202210101353.5
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谢玉波李莹颖马明祥张锐曹辉邓阳阳汪杰徐馥芳
申请人 :
中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院
申请人地址 :
北京市丰台区东大街53号院
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
刘亚平
优先权 :
CN202210101353.5
主分类号 :
G01R33/10
IPC分类号 :
G01R33/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/10
磁场分布的绘制
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/10
申请日 : 20220127
申请日 : 20220127
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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