一种基于红外辐射成像的MPD阴极温度监测系统及方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于红外辐射成像的MPD阴极温度监测系统及方法，监测系统包括陷波滤光片，光电探测器，测控系统和相机；陷波滤光片用于屏蔽MPD阴极辐射光中的羽流辐射光，分别设于MPD工作时所处真空仓的两个视窗上；监测方法为，阴极辐射光通过陷波滤光片后被光电探测器接收，光电探测器将光强信号输出至测控系统，得到相机曝光时间的预期值，进而控制相机的曝光时间，相机接收阴极辐射光，生成红外辐射照片；测控系统根据红外辐射照片得到MPD阴极温度。本发明有效排除了等离子体羽流的辐射干扰，实时控制相机曝光时间，实现了MPD阴极表面温度和形貌的测量，具有结果准确，适用性强等优势。
基本信息
专利标题 ：
一种基于红外辐射成像的MPD阴极温度监测系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114623932A
申请号 ：
CN202210106582.6
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-01-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
严浩周成姚兆普李飞王戈韩道满李永赵博强王宝军丛云天孙鲲亢淼李永平吴延龙
申请人 ：
北京控制工程研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区北京2729信箱
代理机构 ：
中国航天科技专利中心
代理人 ：
范晓毅
优先权 ：
CN202210106582.6
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G01J5/06 G01J5/08 H04N5/235
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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