本申请公开了一种面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取液晶面板的仿真模型；根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数；根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率；根据入射光亮度和所述节点透过率确定各节点的透射光亮度值。本申请实施例针对实际使用过程中存在外力作用的液晶面板产品，在设计阶段定量化计算其亮度分布，避免反复制作样品进行试验。