电路板质量检测方法、装置、计算机设备和存储介质
公开
摘要
本申请涉及一种电路板质量检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取所述电路板在第一预设电流激励下的测量电阻；控制降温装置对所述电路板降温处理直至所述测量电阻等于初始电阻；根据所述测量电阻及所述初始电阻计算电阻变化率；若所述电阻变化率小于或等于预设变化率，则重复测量所述电阻变化率的步骤直至检测次数等于预设次数。采用本方法能够通过电流激励电路板模拟电路板在实际使用中由于电流产生的热源而造成的热胀现象，再通过控制降温装置对所述电路板降温模拟实际应用中由于不恒定电流造成的冷缩现象，最后通过计算电阻变化率判断所述电路板在一定次数内的热胀冷缩后的质量是否优良。
基本信息
专利标题 ：
电路板质量检测方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114579375A
申请号 ：
CN202210110903.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈泽坚蒋攀攀陈航洪瑛旭杨颖周亮
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
杨明莉
优先权 ：
CN202210110903.X
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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