一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法
公开
摘要
本发明公开了一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法。本发明首先将宽温度区间划分为不同温度子区间，然后在温度子区间内，用同一个积分时间进行不同温度下的成像，确保了该区间下的图像线性度，通过校正参数修正使图像在该温度区间下均匀。本发明解决了制冷红外热像仪随温度变化，非均匀性较差，图像输出质量不佳的问题，且校正数学模型简单，参数少，易于工程实现，为提高红外热像仪的温度分辨能力和图像质量提供了更好的支持。
基本信息
专利标题 ：
一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577347A
申请号 ：
CN202210121578.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
时海涛杨训敏郦翀牛雪雷孙艺哲
申请人 ：
艾迪科技（北京）有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西三环北路50号豪柏大厦C1座805室
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
代丽
优先权 ：
CN202210121578.7
主分类号 ：
G01J5/53
IPC分类号 ：
G01J5/53
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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