曲面显示屏漏光分析方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种曲面显示屏漏光分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取曲面显示屏的有限元仿真模型;获取观察点的位置坐标;根据所述有限元仿真模型和所述位置坐标,确定所述有限元仿真模型各节点相对于所述观察点的光线入射角;根据所述有限元仿真模型和所述光线入射角,确定所述有限元仿真模型各节点的琼斯矩阵;根据预设的入射光参数和各节点的所述琼斯矩阵确定各节点的透射光亮度值。本申请实施例针对曲面液晶面板产品,在设计阶段定量化计算其不同视角下的亮度分布,避免反复制作样品进行试验。
基本信息
专利标题 :
曲面显示屏漏光分析方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114545667A
申请号 :
CN202210122535.0
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
贾磊邓创华肖浪汪刚
申请人 :
TCL华星光电技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
魏学昊
优先权 :
CN202210122535.0
主分类号 :
G02F1/13
IPC分类号 :
G02F1/13 G02B27/00 G06F30/23
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02F 1/13
申请日 : 20220209
申请日 : 20220209
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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