像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法，所述像素修复方法在像素阵列内的子像素出现缺陷形成缺陷子像素时，向断开缺陷子像素的信号接收端，通过设置连接线将缺陷子像素的阳极与相邻的正常子像素的阳极串联连接，结合亮度补偿技术即可实现对缺陷子像素的修复，使该缺陷子像素可正常发光，显示亮度和相邻正常子像素一致，实现缺陷子像素的伪正常化，可降低像素阵列内的金属走线密度，避免像素空间不足而不能进行缺陷正常化修补，降低有机发光显示面板产品内的缺陷点数量，提升产品良率。
基本信息
专利标题 ：
像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114551543A
申请号 ：
CN202210124540.5
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何伟
申请人 ：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
马广旭
优先权 ：
CN202210124540.5
主分类号 ：
H01L27/32
IPC分类号 ：
H01L27/32 H01L21/77
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/32
申请日 : 20220210
申请日 : 20220210
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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