散射介质光学传输矩阵的测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种散射介质光学传输矩阵的测量方法，该方法包括：将入射光束的水平偏振分量和垂直偏振分量分别作为信号光束和参考光束经过半波片入射散射介质；旋转半波片调制信号光束和参考光束的比例，消除参考光束的影响，检索散射介质光学传输矩阵的最优解。上述散射介质光学传输矩阵的测量方法，在测量散射介质光学传输矩阵时具有明显的增强效果，将入射光束的水平偏振分量和垂直偏振分量分别作为信号光束和参考光束，采用共路传播全场相移干涉法在测量光学传输矩阵时可以完全消除参考光束的影响，在测量光学传输矩阵时检索效率更高，样本需求更低，信号光束和参考光束共路传输，可以降低系统误差。
基本信息
专利标题 ：
散射介质光学传输矩阵的测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460045A
申请号 ：
CN202210127594.7
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-02-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
詹其文胡海峰高涵
申请人 ：
上海理工大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区军工路516号
代理机构 ：
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司
代理人 ：
孟旭彤
优先权 ：
CN202210127594.7
主分类号 ：
G01N21/47
IPC分类号 ：
G01N21/47 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/47
申请日 : 20220211
申请日 : 20220211
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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