检漏方法、生产线工作方法、装置、系统和存储介质
公开
摘要
本发明涉及一种检漏方法，包括：采集待测箱体数据；接收指定参数；基于所述指定参数形成检测模型；将所述待测箱体数据输入至所述检测模型中进行识别，获取检漏结果；其中，所述接收指定参数，包括：读取样本RGB图像数据；将所述样本RGB图像数据转化为样本HSV色彩空间图像数据；接收对所述样本HSV色彩空间图像数据的参数标定。本发明可以实现产线上产品的配件漏件检测功能，可以快速地进行部署并在非专业人员的操作情况下，基于极少的样本即可以实现检漏方法的调整和部署，大大的节约了研发资源和上线时间，提高效率。解决现有技术中漏检算法采用AI方法进行图像识别导致需要专业技术人员、GPU计算资源和大量的开发调试时间的问题。
基本信息
专利标题 ：
检漏方法、生产线工作方法、装置、系统和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627053A
申请号 ：
CN202210129649.8
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-02-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨华宋华詹犇张猛刚李天宇张涛
申请人 ：
纯米科技（上海）股份有限公司
申请人地址 ：
上海市崇明区临港长兴科技园江南大道1333弄11号楼
代理机构 ：
深圳高智量知识产权代理有限公司
代理人 ：
姚启迪
优先权 ：
CN202210129649.8
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/62 G06T7/80 G06T7/90 G06K7/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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