本发明公开的一种适用于电力专用芯片的响应时间检测方法及装置，该方法包括：主控芯片向待检测的目标电力专用芯片发送检测指令，并记录发送所述检测指令的第一时间；目标电力专用芯片对经由主控芯片发送的检测指令进行接收，并反馈相应的应答数据给主控芯片；主控芯片记录接收到所述应答数据的第二时间，并根据设定时间内多次记录得到的所述第一时间和所述第二时间、以及根据接收到的应答数据所确定的响应次数，确定目标电力专用芯片的实时响应时间。该方法的实施能够在保证对芯片响应时间测试的情况下，为后续的芯片应用提供支持和保障。