一种二维平面的放射源定位设备
公开
摘要
本发明应用于放射源定位，属于核技术应用领域，具体涉及一种主要应用于放射源的监控管理及搜寻的二维平面的放射源定位设备。包括四个相同规格的核辐射探测器、信号读取及处理系统，其中：所述核辐射探测器用于对放射源发射粒子数经由一定距离后的此位置下放射性粒子计数或其他辐射信息记录；所述信号读取系统包含常规的核电子学系统，用以将探测器探测到的信号转化为电信号传输至计算机；结合本专利所述的放射源定位方法及设备所需探测器简单、方法高效，不依赖复杂的计算过程，解决了当前放射源探测设备复杂、繁琐的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种二维平面的放射源定位设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578408A
申请号 ：
CN202210133047.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘辉兰邓得超宋玉收侯英伟王利斌黄丽萍高旭宏
申请人 ：
哈尔滨工程大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210133047.X
主分类号 ：
G01T1/167
IPC分类号 ：
G01T1/167
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量，例如，污染的测量
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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