一种集成化气室荧光气体检测装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及气体检测技术领域,尤其涉及一种集成化气室荧光气体检测装置,包括半导体激光器、激光通道、凹面反射镜、检测气室、滤波器和探测器,所述激光通道、凹面反射镜和检测气室集成在同一基底材料上形成集成化气室,所述集成化气室中在与检测气室相对应的位置处还集成有滤波器,所述半导体激光器输出的激发光波长小于待测气体的吸收波长,所述半导体激光器输出的激光通过激光通道到达凹面反射镜并聚焦到检测气室内,待测气体在检测气室内被激发而辐射出的荧光能够通过滤波器,所述滤波器反射半导体激光器输出的激光,所述探测器用于探测待测气体辐射出的荧光的功率,本发明提供了一种结构紧凑且装配要求低的集成化荧光气体检测装置。

基本信息
专利标题 :
一种集成化气室荧光气体检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509417A
申请号 :
CN202210136750.6
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨炳雄徐洋施跃春
申请人 :
南京浦光芯片科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢298
代理机构 :
南京钟山专利代理有限公司
代理人 :
张力
优先权 :
CN202210136750.6
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220215
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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