本发明提供一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：对待测试部件组进行老化测试，并记录在设定时长T内各个时间段的故障个数，其中T包含的时间段的总个数为M，每个时间段的时长为t；计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，其中N的初始值为1；若故障率之和不大于第一阈值，则以N+1作为N，再重新计算前N个时间段的故障率之和；若故障率之和大于第一阈值，则判断N是否小于M；若N小于M，则设定待测试部件组的老化时间为N*t；若N等于M，则设定待测试部件组的老化时间为T+t。通过本发明，解决了现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。