低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置和方法
公开
摘要
本发明涉及低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置，包括：线圈组、磁特性测试仪、磁屏蔽筒以及上位机；所述线圈组缠绕在被测样件上并与磁特性测试仪相连，缠绕有线圈组的被测样件放置在磁屏蔽筒内；所述磁屏蔽筒为被测样件提供弱磁环境；所述磁特性测试仪，用于对所述线圈组提供励磁电流以及检测所述被测样件的感应电压，并将测得数据传输至上位机；所述上位机，用于获取磁特性测试仪测试出的数据并绘制得出磁化曲线。本发明的技术方案解决了现在磁性材料磁特性测试装置无法获取高导磁材料低频弱磁环境下的磁导率问题，从而提高磁屏蔽装置理论计算和仿真计算的精度和准确度，减小设计值与实际值的误差。
基本信息
专利标题 ：
低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578273A
申请号 ：
CN202210173963.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐学平孙津济周伟勇任建伊
申请人 ：
北京航空航天大学;北京航空航天大学宁波创新研究院
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杜月
优先权 ：
CN202210173963.6
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12 G01R1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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