一种光栅和基于光栅的疵点检测及数字成像装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种光栅和基于光栅的疵点检测及数字成像装置,使用这种光栅可以使透明物一个整平面的疵点全部显现,并可用工业相机成像,为数字图像处理创造了基础条件。光栅的特征是一组亮暗相间(如黑白相间)的图形并布满整个光栅,利用亮暗相间的边界可使光场突变而使透明物的疵点特征显现,并当光栅与被测目标相对移动时,被测透明物因切割突变的背景光线而使微小疵点边界变化而显现,这时,不断采集图像而使得疵点边界的识别不断补强而完整。可应用于薄膜或树脂的鱼眼测定仪、疵点在线检测、玻璃疵点或边界在线检测、实验室玻璃品质检测仪等众多领域,将产生可观的工业应用和经济效益。

基本信息
专利标题 :
一种光栅和基于光栅的疵点检测及数字成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114545541A
申请号 :
CN202210175322.4
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2019-08-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
戴彤宇
申请人 :
上海塞普机电工程技术有限公司;戴彤宇
申请人地址 :
上海市徐汇区龙华西路585号华富大厦22A3室
代理机构 :
北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
代理人 :
王月松
优先权 :
CN202210175322.4
主分类号 :
G02B5/18
IPC分类号 :
G02B5/18  G01N21/958  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B5/00
除透镜外的光学元件
G02B5/18
衍射光栅
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 5/18
申请日 : 20190801
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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