测试方法、测试平台、测试装置、服务器及存储介质

授权

摘要

本申请公开了一种测试方法、测试平台、测试装置、测试系统、服务器及存储介质。该测试方法，包括：确定待测试的信息接口；基于信息接口，确定出输入测试平台中的测试数据以及设定参数，其中测试数据包括用于生成测试请求的用户信息，设定参数用于确定出出对信息接口进行测试的业务模型和业务场景；基于测试数据以及设定参数，对信息接口进行数据处理能力的性能测试。本申请中，通过在测试平台中输入测试数据以及设定参数，来完成对应信息接口测试请求的特定业务场景测试，从而可通过测试平台实现对信息接口特定业务场景下的接口性能测试。

基本信息

专利标题：

测试方法、测试平台、测试装置、服务器及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114238155A

申请号：

CN202210175766.8

公开（公告）日：

2022-03-25

申请日：

2022-02-25

授权号：

CN114238155B

授权日：

2022-05-06

发明人：

张大用王晓华董颖颖

申请人：

北京宇信科技集团股份有限公司

申请人地址：

北京市海淀区高梁桥斜街42号院1号楼5层1-519

代理机构：

北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

沈煜华

优先权：

CN202210175766.8

主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/36 G06F11/34