本发明涉及设备检测领域，具体涉及一种电子设备质量管控方法及装置，方法包括：对被测设备进行项目检测；在被测设备未测试成功的情况下，则第一预设时间段内，对被测设备进行本项目重复检测；如果未在第一预设时间段内对被测设备进行本项目重复检测，则被测设备为次品；如果对被测设备进行本项目重复检测的次数达到预设次数，且被测设备未测试成功，则被测设备为次品；如果对被测设备进行本项目重复检测的次数未超过预设次数，且被测设备测试成功，则被测设备为良品，将被测设备传输至下一检测项目。通过设定时间管控和次数管控，能够有效的防止不良产品流入市场，影响产品质量，并且能够提高生产效率。