信号线电迁移检查方法及装置、电子设备和存储介质
公开
摘要
一种信号线电迁移检查方法、信号线电迁移检查装置、电子设备和非瞬时性计算机可读存储介质。该信号线电迁移检查方法应用于集成电路设计，集成电路设计包括顶层设计和多个子设计，信号线电迁移检查方法包括：生成与多个子设计一一对应的多个边界模型文件，其中，每个边界模型文件包括边界模型文件对应的子设计中的多个交互元件的描述信息，多个交互元件用于实现子设计与顶层设计和/或多个子设计中除了边界模型文件对应的子设计之外的子设计进行交互；获取与顶层设计对应的描述文件；基于多个边界模型文件和顶层设计对应的描述文件，对顶层设计进行信号线电迁移检查。
基本信息
专利标题 ：
信号线电迁移检查方法及装置、电子设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114580339A
申请号 ：
CN202210187530.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王巍沈琪方勇李凤岳
申请人 ：
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 ：
天津市华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
罗莎
优先权 ：
CN202210187530.6
主分类号 ：
G06F30/3947
IPC分类号 ：
G06F30/3947 G06F30/398
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/3947
全球
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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