一种信号测试探棒、系统和方法
公开
摘要

本发明所述的一种信号测试探棒、系统和方法,所述探棒包括:参数调节单元和探头;所述探头的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端;所述参数调节单元包括若干个并联连接的可调电阻电路和可调电容电路;所述可调电阻电路包括若干个串联连接的第一单刀多掷开关和电阻组、以用于变换所述可调电阻电路的阻值;所述可调电容电路包括若干个串联连接的第二单刀多掷开关和电容组、以用于变换所述可调电容电路的容值。本申请所述的方法可以快速获得不同元器件参数对电路设计的影响,可以简化电容和电阻的调试过程,可以减少因元器件的反复拆装而造成的测试板损坏的情况。

基本信息
专利标题 :
一种信号测试探棒、系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114578104A
申请号 :
CN202210189902.9
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘玉静
申请人 :
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 :
北京市万慧达律师事务所
代理人 :
劳奕琴
优先权 :
CN202210189902.9
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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