一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法
公开
摘要
本发明涉及一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法,属于功率密度测量技术领域,解决现有技术标定的量多误差大的测量问题,方法包括:选择非线性介质作为高功率微波测量用吸波材料板,开启待测高功率微波源,对吸波材料板进行照射,控制待测高功率微波源照射时间,确保吸波材料板对高功率微波能量的热转换并通过红外成像仪对达到热平衡的吸波材料板进行热成像;根据吸波材料板的反射系数、比热容、吸波材料板的密度、吸波材料板的厚度、高功率微波占空比以及高功率微波对吸波材料板的照射面积、温差,确定待测高功率微波源的功率密度。本申请能够避免反复测量及采点,从而提高效率。
基本信息
专利标题 :
一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563623A
申请号 :
CN202210196220.0
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-03-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周春燕孙月刚孙建亮吕雪峰
申请人 :
北京机电工程研究所
申请人地址 :
北京市丰台区云岗北里40号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210196220.0
主分类号 :
G01R21/02
IPC分类号 :
G01R21/02 G01J5/48
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R21/00
电功率、功率因数的测量装置
G01R21/02
用热方法
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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