阵列基板、显示面板及电子设备
公开
摘要
本发明提供了一种阵列基板、显示面板及电子设备，所述阵列基板包括测试结构，所述测试结构至少包括第一测试结构，所述第一测试结构用于测试所述阵列基板的柔性衬底的电学性能，所述第一测试结构包括：柔性衬底；阻隔层，设于所述柔性衬底上；测试电极层，包括第一测试电极和第二测试电极，所述第一测试电极与所述阻隔层接触，所述第二测试电极与所述柔性衬底接触。本发明通过在阵列基板内设置测试结构，在测试柔性衬底的电学性能时，利用外部的测试探针对所述第一测试电极和所述第二测试电极输入测试电压，利用所述测试结构对所述阵列基板的柔性衬底进行电学性能监测，便于所述阵列基板内薄膜晶体管器件的性能研究，有利于所述阵列基板的设计。
基本信息
专利标题 ：
阵列基板、显示面板及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114597196A
申请号 ：
CN202210198100.4
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴咏波
申请人 ：
武汉华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
何志军
优先权 ：
CN202210198100.4
主分类号 ：
H01L23/544
IPC分类号 ：
H01L23/544 H01L27/12
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/544
加到半导体器件上的标志，例如注册商标、测试图案
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
