一种VPX设备散热性能测试方法及系统
公开
摘要
本发明公开了一种VPX设备散热性能测试方法及系统，所述的方法包括以下步骤:获取环境状态参数；按照所述的环境状态参数调整板卡工作环境；周期性的采集板卡的红外辐射，生成伪色彩热图；根据伪色彩热图获取板卡各个核心温度监测点的温度数据；整合板卡各个核心温度监测点的温度数据，生成板卡温度变化趋势图像，分析得出板卡的散热性能。相比于传统方式，即可以对单一的板卡进行测定还可以对集成式的板卡进行测定，从而解决实际应用的过程中功耗较高的板卡大多是集成在一起使用的，并且集成度较高，常规的测试方法不能对各个板卡在不同的典型应用场景及使用环境下的散热性能进行全面的测试及评估的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种VPX设备散热性能测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563444A
申请号 ：
CN202210200117.9
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
廖建平陈月玲谢启友
申请人 ：
湖南博匠信息科技有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市岳麓区青山路军民融合产业园5栋4楼
代理机构 ：
湖南正则奇美专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
蔡敏
优先权 ：
CN202210200117.9
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20 G06F11/30 G06F11/32 G06F11/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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